DT304-X208 矽半導體(tǐ)電(diàn)阻率及型号測試儀是運用(yòng)四探針測量原理(lǐ)的多(duō)功能(néng)綜合測試裝(zhuāng)置，它可(kě)以測量片狀、塊狀半導體(tǐ)材料的徑向和 軸向電(diàn)阻率，适用(yòng)于半導體(tǐ)及太陽能(néng)行業的篩選。

産(chǎn)品特點

1 儀器采用(yòng) 220V 交流電(diàn)源供電(diàn)。

2 同時檢測矽半導體(tǐ)材料的電(diàn)阻率和型号兩項指标。

3 擁有(yǒu)較高的電(diàn)阻率測試分(fēn)辨率，*小(xiǎo)可(kě)到0.001 歐姆.厘米。 4 能(néng)*的分(fēn)辨電(diàn)阻率在0.002 歐姆.厘米以上的矽半導體(tǐ)材料型号。

5 獨立的 P/N 型重摻告警設置，便于工(gōng)廠大規模快速選料。

6 适中(zhōng)的體(tǐ)積和便攜性。

7 簡單的操作(zuò)，快速的測試。

8 低廉的價格，很(hěn)高的性價比。

參數指标

1 供電(diàn)電(diàn)源 220V±10% 50Hz AC

2 功耗<1w

3 主機尺寸 155×120×50mm

2 電(diàn)阻率測試範圍 0.001~50 歐姆.厘米 3 電(diàn)阻率測試精(jīng)度 ±5%±2LSB